LS 13 320 XR粒径分析仪

对于帮助您发现小差异的大改进。

LS 13 320 XR提供来自高级的最佳粒度分布数据pid技术,*使高分辨率的测量和扩展的动态范围。就像LS 13 320., XR粒度分析仪提供快速,准确的结果,并帮助您简化工作流程,优化效率。一些大的改进可以帮助您可靠地发现微小的差异,这可能会对您的粒子分析数据产生巨大的影响。

文件及申请须知

ls13 320 XR粒度分析仪功能

发现小差异

  • 扩展测量范围:10nm - 3,500μm
  • 激光衍射加上先进的偏振强度差分散射(PIDS.)技术使高分辨率测量和报告实际数据降至10 nm
  • 提供准确,可靠的检测多个粒径的单一样品

易于使用的软件

  • 适应软件功能自动通过/失败检查
  • 预先配置的方法只需3次或更少的点击就可以交付结果
  • 简化了专家和新手用户的分析仪操作
  • 1 - 单击覆盖与历史数据
  • 直观的用户诊断可以在采样期间通知您
  • 标准测量的简化方法创建

调整软件启用21 CFR部分11

  • 可定制的安全系统满足不同的需求
  • 选择4个安全级别
  • 高安全性配置支持新利18luck2021足球欧洲杯买球平台21 CFR第11部分

pid技术*用于10 nm颗粒的直接检测

  • 3个波长(450,600和900 nm)用垂直和水平偏振光照射样品
  • 分析仪测量散射光从样品在一个范围的角度
  • 每个波长的水平和垂直辐射光的差异产生高分辨率的粒度分布数据

选择LS 13 320 XR模型

LS 13 320 XR粒径分析仪规格

光源 衍射:固态(780nm)PID:钨灯,具有高质量带通滤清器(450,600和900nm)
粒度分析范围 10 nm - 3,500μm
流体兼容性 乳液,悬浮液,粉末
报告. PDF,Excel.
项目规格参考 B98100.

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